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「破壊強度試験」

超高速温度環境試験機 サーモジェット

超高速温度環境試験機 サーモジェット

サーモジェットは半導体/電子デバイス、DUT(Device Under Test)の温度環境を、最大20SCFMの気流を与えることにより急激に変化させ、温度環境を精密制御する超高速温度環境試験機です。

ユニバーサルボンドテスター System 650

ユニバーサルボンドテスター System 650

次世代の高精度ボンドテスター。 ウインドウズベースのソフトウェア“ボンドテストマネージャー”により容易なデータ管理を実現。 またシェアテスト後の破断状況をモニターで確認することができるイメージキャプチャー機能を搭載。300 mm ウェハ上のバンプシェアテスト対応。

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